专用试块由于被检工件是专用材料制造的，所以应制作尽可能反映工件实际状况的专用参考试块。专用试块采用与护环同材质同工艺材料制作，几何形状为模拟实际工件的弧形，厚度35mm，弧高85mm（约为工件厚度的一半），内径<1240mm（接近护环内径）。专用试块正视如所示。

　　探头参数的选择探头频率探头频率f越高，检验灵敏度和缺陷分辨力越高，从这个角度来说对探伤是有利的。但随着频率的提高，超声波的衰减也增加，特别是散射衰减尤其严重。当材料晶粒直径小于波长λ时（实际探伤频率一般为几兆赫，满足此条件），散射衰减系数正比于λ3f4<1>。

　　被检工件为奥氏体不锈钢，应考虑其晶粒度对散射的影响。如频率太高，超声波可能产生严重衰减，降低信噪比，对检验产生影响。采用几种不同频率的直探头，分别在专用试块和IIW试块上利用多次反射法进行衰减系数测定，结果如所示。专用试块衰减系数高于IIW试块，反映出奥氏体不锈钢晶粒粗大的固有特性。但用低频探头时，不锈钢衰减系数与碳素钢相差较小，故探伤宜采用较低频率。

　　另外采用2和4MHz的22mm×20mm45°探头进行比较，专用试块上3号通孔回波相差>20dB.横波探伤选择1～2MHz频率探头具有较好效果。纵波探伤声程较短，衰减量相对较小，故可选择相对较高的频率，但≯3MHz为宜<2>。由于试验误差，试验数据不能验证衰减系数正比于f4，但可明衰减系数随f增加而增大。

　　晶片尺寸晶片尺寸大，半扩散角小，能量集中，利于远距离缺陷的检出。护环探伤要特别关注工件内面AB段缺陷。由于工件较厚，故可考虑采用较大尺寸晶片的探头；另外，由于工件较大，采用大晶片探头也利于提高工效。但晶片尺寸大时近场区长度增加，对探伤不利。

　　近场区长度N正比于晶片面积Fs和探头频率f，所以晶片尺寸的选择还应考虑与频率的匹配，以缩短近场区长度，使检验重点区域即工件内面AB段包括凹槽部位脱离近场区。事实上，由于工件本身厚度较大，加上选择较低频率，较易满足该要求。工件外面到凹槽垂直距离约100mm.

　　以<25mm3MHz直探头为例，取一般奥氏体纵波声速5660m/s，根据公式N=Fs/πλ算出N=82mm<100mm.式中Fs为晶片面积。对于横波探伤，以K1探头为例，探测凹槽时单倍声程>140mm.如Fs=500mm2，频率2MHz，取一般奥氏体不锈钢横波声速3120m/s，不考虑近场区N在探头内的分布，根据公式N=Fsπλcosβcosα式中α―――纵波入射角β―――横波折射角可计算出N=89mm<140mm.

　　斜探头K值为缩短声程以减少衰减的影响，应选用较小K值的探头。实际探伤中一般选用K1～1。横波检验（1）时基扫描以试块中三个<1.5mm通孔进行深度调节。（2）检验灵敏度以专用试块上1号通孔反射波达80%屏高为检验灵敏度，扫查时补偿6dB.

　　纵波检验以专用试块上<1.5mm平底孔反射波达80%屏高为检验灵敏度，扫查时补偿6dB.检验准备为避免耦合剂进入转子内部造成污染，检验前要密封护环附近的转子面区域。护环面进行清洗或采用砂纸轻度修磨平滑，不必破坏油漆。为防止破坏电器设备绝缘度，必须采用油基耦合剂。

　　结论对于发电机转子护环的超声波探伤，应特别注意，①由于结构薄弱和存在应力腐蚀风险，检验中对AB段应予以重点关注。②由于工件为奥氏体不锈钢，应考虑选择低频探头，以降低散射衰减带来的不良影响。③为有效检出工件内面缺陷，可考虑选用较大尺寸晶片探头，但同时应考虑与频率的适当匹配，以避免近场区过长产生的负面影响。